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이온 오염 시험

청정도는 측정할 수 있습니다. 이온 시험은 잔류물을 단위 면적당 염화나트륨 등가량으로 환산합니다.

Hitech Circuits 엔지니어링 데스크

중국 선전 · PCB 제조 및 실장

2 분 소요

게시:

최종 업데이트:

기술 검토: 공정 수치는 공개된 역량 자료와 대조해 확인했습니다.

측정 항목

시료를 시험 용액으로 헹군 후, 전도도 변화를 제곱센티미터당 염화나트륨 상당량(마이크로그램)으로 변환합니다. 이는 잔류물의 위치를 나타내는 것이 아니라 전체적인 청결도를 나타내는 지표입니다.

오염원

  • 페이스트 또는 웨이브 솔더링 시 발생하는 플럭스 잔류물
  • 장갑을 착용하지 않은 상태에서 취급 시 발생하는 잔류물
  • 제조 과정에서 발생하는 도금 및 마스크 잔류물
  • 완전히 건조되지 않은 세척수

시험 시기

컨포멀 코팅 전, 고임피던스 아날로그 회로, 그리고 고객이 청결도 한계를 지정한 경우에 시험합니다. 추후 부식 관련 문제가 발생할 경우 추적할 수 있도록 시험 결과를 로트 기록과 함께 보관하십시오. 시험 범위 포함 여부는 코팅이 끝난 뒤가 아니라 PCBA 테스트 및 품질 보증 협의 단계에서 확정하는 것이 좋습니다.

기술 사양

측정값
제곱센티미터당 염화나트륨 상당량(µg NaCl)
공통 한계
일반적으로 고객 또는 표준에 따라 ≤1.56 µg/cm²입니다.
품질 게이트
IQC · IPQC · QC · QA

자주 묻는 질문

  • 이온 오염 검사는 언제 실시해야 할까요?

    제품에 코팅 처리가 되거나, 높은 임피던스에서 작동하거나, 장기간 습기에 노출될 경우, 잔류물 위에 코팅을 하면 잔류물이 갇히게 되고, 고임피던스 회로는 이온 오염으로 인한 누설 전류가 가장 먼저 나타나는 회로입니다.

  • 무세척 공정도 여전히 테스트가 필요할까요?

    가능합니다. 무세척 공정은 잔류물이 전혀 남지 않는다는 의미가 아니라, 해당 용도에 안전하도록 설계되었다는 뜻입니다. 설계가 민감하거나 고객이 증거를 요구하는 경우, 테스트를 통해 공정이 합의된 한도 내에서 진행되었음을 확인할 수 있습니다.

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