ควรระบุการทดสอบการปนเปื้อนของไอออนเมื่อใด?

เมื่อผลิตภัณฑ์ได้รับการเคลือบแบบคอนฟอร์มอล ทำงานที่ความต้านทานสูง หรือสัมผัสกับความชื้นเป็นเวลาหลายปี การเคลือบทับคราบตกค้างจะกักเก็บคราบเหล่านั้นไว้ และวงจรที่มีความต้านทานสูงจะเป็นวงจรแรกที่แสดงการรั่วไหลเนื่องจากการปนเปื้อนของไอออน

กระบวนการที่ไม่ต้องทำความสะอาด ยังจำเป็นต้องทดสอบอยู่หรือไม่?

สามารถทำได้ คำว่า "ไม่ต้องทำความสะอาด" หมายความว่าสารตกค้างถูกออกแบบมาให้ปลอดภัยต่อการใช้งาน ไม่ได้หมายความว่าไม่มีสารตกค้างอยู่เลย หากการออกแบบมีความละเอียดอ่อน หรือลูกค้าต้องการหลักฐาน การทดสอบจะยืนยันว่ากระบวนการเป็นไปตามขอบเขตที่ตกลงกันไว้

บล็อก

การทดสอบการปนเปื้อนไอออนิก

ความสะอาดสามารถวัดได้ การทดสอบไอออนิกแปลงสารตกค้างเป็นค่าเทียบเท่าโซเดียมคลอไรด์ต่อหน่วยพื้นที่

ทีมวิศวกรรม Hitech Circuits

เซินเจิ้น จีน · การผลิตและประกอบ PCB

2 นาทีในการอ่าน

เผยแพร่: 2017-09-02

อัปเดตล่าสุด: 2026-11-10

การตรวจทานทางเทคนิค: ตัวเลขในกระบวนการได้รับการตรวจสอบกับเอกสารขีดความสามารถที่เผยแพร่ของเรา

สิ่งที่วัดได้

ตัวอย่างจะถูกล้างด้วยสารละลายทดสอบ และการเปลี่ยนแปลงของค่าการนำไฟฟ้าจะถูกแปลงเป็นไมโครกรัมของโซเดียมคลอไรด์เทียบเท่าต่อตารางเซนติเมตร นี่เป็นตัวบ่งชี้ความสะอาดโดยรวม ไม่ใช่แผนที่แสดงตำแหน่งของสารตกค้าง

แหล่งที่มาของการปนเปื้อน

สารตกค้างจากฟลักซ์ของบัดกรีแบบวางหรือแบบคลื่น
การสัมผัสโดยไม่สวมถุงมือ
สารตกค้างจากการชุบและการปิดบังจากกระบวนการผลิต
น้ำล้างที่ยังไม่แห้งสนิท

เมื่อใดควรทำการทดสอบ

ก่อนการเคลือบแบบคอนฟอร์มอล ในวงจรอนาล็อกที่มีความต้านทานสูง และเมื่อใดก็ตามที่ลูกค้ากำหนดขีดจำกัดความสะอาด เก็บผลการทดสอบไว้กับบันทึกของล็อต เพื่อให้สามารถตรวจสอบข้อร้องเรียนเรื่องการกัดกร่อนในภายหลังได้ การพิจารณาว่าการทดสอบอยู่ในขอบเขตที่กำหนดหรือไม่นั้นคุ้มค่าที่จะตัดสินใจเมื่อใด การทดสอบ PCBA และการประกันคุณภาพ ตกลงกันว่า ไม่ใช่หลังจากที่ทำการเคลือบผิวเสร็จแล้ว

ข้อมูลจำเพาะทางเทคนิค

วัดได้เป็น: ไมโครกรัมเทียบเท่า NaCl ต่อตารางเซนติเมตร
ขีดจำกัดทั่วไป: โดยทั่วไป ≤1.56 µg/cm² ต่อลูกค้าหรือมาตรฐาน
เกณฑ์คุณภาพ: IQC · IPQC · QC · QA

คำถามที่พบบ่อย

ควรระบุการทดสอบการปนเปื้อนของไอออนเมื่อใด?
เมื่อผลิตภัณฑ์ได้รับการเคลือบแบบคอนฟอร์มอล ทำงานที่ความต้านทานสูง หรือสัมผัสกับความชื้นเป็นเวลาหลายปี การเคลือบทับคราบตกค้างจะกักเก็บคราบเหล่านั้นไว้ และวงจรที่มีความต้านทานสูงจะเป็นวงจรแรกที่แสดงการรั่วไหลเนื่องจากการปนเปื้อนของไอออน
กระบวนการที่ไม่ต้องทำความสะอาด ยังจำเป็นต้องทดสอบอยู่หรือไม่?
สามารถทำได้ คำว่า "ไม่ต้องทำความสะอาด" หมายความว่าสารตกค้างถูกออกแบบมาให้ปลอดภัยต่อการใช้งาน ไม่ได้หมายความว่าไม่มีสารตกค้างอยู่เลย หากการออกแบบมีความละเอียดอ่อน หรือลูกค้าต้องการหลักฐาน การทดสอบจะยืนยันว่ากระบวนการเป็นไปตามขอบเขตที่ตกลงกันไว้