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Sechs Wege zur Prüfung einer Leiterplattenbestückung

Jede Prüfmethode erfasst eine andere Ebene der Leiterplatte. Zwei Methoden mit Überschneidungen kosten unnötig Geld, während zwei unzureichende Methoden eine blinde Lücke hinterlassen.

Hitech Circuits Engineering-Desk

Shenzhen, China · PCB-Fertigung und -Bestückung

2 Min. Lesezeit

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Fachliche Prüfung: Prozesswerte geprüft gegen unser veröffentlichtes Leistungsblatt.

Sechs Methoden zur Leiterplattenprüfung

Inspektion ist ein Prozess, kein einzelner Schritt

Eine Leiterplattenbestückung kann auf Arten fehlerhaft sein, die mit keiner einzelnen Methode erfasst werden. Zu dünn aufgetragene Lötpaste, ein um 90° gedrehtes Bauteil, eine nicht verlötete BGA-Kugel, ein Hohlraum in einem Lötkolben, ein Firmware-Image, das nicht bootet – all dies bleibt für mindestens eines der Standardwerkzeuge unsichtbar.

Die entscheidende Frage lautet daher nicht: „Welche Inspektion verwenden wir?“, sondern: „Welche Fehlermodi sind auf dieser Leiterplatte relevant und welche Methode erfasst jeden einzelnen?“ Die folgenden sechs Methoden decken die gesamte Kette von der Lötpaste bis zum fertigen Produkt ab.

1. Sichtprüfung und Mikroskopie

Die kostengünstigste und erste Prüfung. Sie deckt fehlende Teile, falsche Polarität, Tombstoning, Lötperlen und beschädigte Bauteile auf und ist die einzige Methode, die Siebdruck und Markierungen direkt ausliest. Sie ist jedoch auch die unzuverlässigste, weshalb sie beim Einrichten und bei der Endkontrolle eingesetzt wird und nicht als alleinige Kontrollinstanz.

2. Lötpasteninspektion

SPI misst Höhe, Fläche und Versatz der Lötpaste vor dem Reflow-Löten. Es ist die einzige Methode, die einen Druckfehler erkennt, solange die Leiterplatte noch gewaschen und neu bedruckt werden kann: Ein 30 % dünner Druck wird nach dem Reflow zu einer offenen Lötstelle, und bis dahin ist das Bauteil bereits platziert.

3. Automatisierte optische Inspektion (AOI)

AOI vergleicht die bestückte Leiterplatte mit einer programmierten Referenz: Vorhandensein, Polarität, Drehung, Versatz, Form der Verrundungen und Stege. Die Grenzen sind physikalisch bedingt – es werden nur Oberflächen erfasst. Hohe Bauteile werfen Schatten auf ihre Nachbarn, und alles unter einem Gehäuse ist unsichtbar.

4. Röntgenprüfung

Röntgenprüfung durchleuchtet die darunterliegenden Lötstellen: BGA-Kugeln, QFN-Wärmeleitpads, Press-Fit-Pins und galvanisch getrennte Anschlüsse. Bei Flächenarray-Bauteilen ist dies die einzige zerstörungsfreie Prüfung, ob die Kugel tatsächlich auf dem Pad aufliegt, wo sich Reflow-Probleme konzentrieren.

5. In-Circuit-Test und Flying-Probe-Test

Beide prüfen die elektrische Durchgängigkeit und die Bauteilwerte bei ausgeschalteter Leiterplatte. Eine Vorrichtung mit festen Sonden ist nach der Fertigung pro Leiterplatte schnell und kostengünstig. Eine fliegende Sonde benötigt keine Halterung und eignet sich für Prototypen und Kleinserien. Beide können die Funktionsfähigkeit des Produkts nicht überprüfen.

6. Funktionstest und Burn-in

Der Funktionstest prüft die Baugruppe als Produkt – Firmware, Schnittstellen, Funkverbindung, Stromverbrauch – und der Burn-in testet sie unter Temperatur- und Zeitbedingungen. Hier treffen Design und Montage aufeinander: Eine grenzwertige Lötstelle, die alle optischen Prüfungen besteht, fällt hier durch. Deshalb wird in der Automobil- und Medizintechnik zusätzlich ein Temperaturwechseltest durchgeführt.

Reihenfolge der Tests

Eine praktikable Reihenfolge ist: SPI-Prüfung am Drucker, AOI-Prüfung nach Bestückung und Reflow, Röntgenprüfung von Flächenarrays und Wärmeleitpads, elektrischer Test jeder Platine, Funktionstest jeder Platine und Burn-in oder Temperaturwechseltest, falls erforderlich. Bei Stichproben können optische Prüfschritte entfallen, elektrische jedoch niemals.

Die Verarbeitungsqualität wird gemäß IPC-A-610 bewertet, und die Prozessgrenzen hinter diesen Prüfpunkten stehen auf der PCBA-Fertigungsseite, Einzelheiten zur Erstmusterprüfung in der FAI-Notiz.

Technische Spezifikationen

Hochwertige Tore
IQC · IPQC · QC · QA
Optische Inspektion
SPI, AOI, Mikroskop
Versteckte Fugen
Röntgenuntersuchung, einschließlich 3D-CT für BGA
Elektrische Prüfung
ICT, Flying Probe, Functional (FCT), Burn-in
Annahme
IPC-A-610-Verarbeitung

Häufig gestellte Fragen

  • Benötige ich sowohl AOI als auch eine Röntgenaufnahme?

    Sie erfassen unterschiedliche Aspekte. AOI analysiert die sichtbare Oberfläche: Vorhandensein, Polarität, Versatz, Form der Verrundung und Brücken. Röntgenanalyse hingegen erfasst das Verborgene: BGA-Kontakte, das Wärmeleitpad unter einem QFN-Gehäuse, die Füllung und Hohlräume. Bei Leiterplatten mit Flächenarray-Gehäusen bleiben die fehleranfälligsten Verbindungen bei der AOI-Analyse allein unerkannt.

  • Wann ist eine fliegende Sonde anstelle einer festen Vorrichtung ausreichend?

    Bei Prototypen, Kleinserien und sich häufig ändernden Designs ist es wichtig, dass keine Vorrichtung gebaut oder gelagert werden muss. Eine fliegende Probe ist pro Platine langsamer, daher wird eine festverdrahtete Vorrichtung günstiger, sobald dasselbe Design in Serie gefertigt wird – die Entscheidung hängt von der Produktionsmenge und nicht von der Technologie ab.

  • Was deckt ein Funktionstest auf, was ein In-Circuit-Test nicht erfasst?

    Der ICT-Test schaltet die Platine ab und prüft Verbindungen und Bauteilwerte an Messpunkten. Er kann jedoch nicht feststellen, ob die Firmware startet, die Funkverbindungen funktionieren oder die Sensoren korrekt messen. Der Funktionstest hingegen simuliert die Anforderungen des Kunden. Daher kann eine Platine den ICT-Test zwar zu 100 % bestehen, aber dennoch im Feldeinsatz versagen.

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