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Comparación de métodos de prueba de PCB

Cada método ve un fallo distinto. Un plan de prueba es una decisión de cobertura, no una lista de máquinas.

Redacción técnica de Hitech Circuits

Shenzhen, China · Fabricación y montaje de PCB

2 min de lectura

Publicado:

Última actualización:

Revisión técnica: Cifras de proceso verificadas con nuestra hoja de capacidades publicada.

Pruebas de PCB con AOI, ICT, sonda volante y prueba funcional en la línea

Visual y rayos X

El SPI revisa la pasta; el AOI revisa colocación y cordones; los rayos X revisan juntas ocultas. Detectan fallos de proceso antes de aplicar tensión.

En circuito y sonda volante

El ICT mide componentes y redes a través de un útil; la sonda volante visita los pads con cabezales móviles. Ambos encuentran abiertos, cortos y valores incorrectos.

Funcional y burn-in

La prueba funcional hace funcionar la placa como producto frente a una especificación; el burn-in la somete a estrés térmico durante un periodo. Detectan margen de diseño y fallos de vida temprana.

Construir el plan

Empezar por los modos de fallo que importan: BGA de paso fino (rayos X), conjuntos de alto valor (ICT), funciones de seguridad (prueba funcional), productos de larga vida (burn-in). Después ajustar el tamaño de muestra al volumen. Puesto por escrito, ese es el plan sobre el que se construye una cotización de pruebas y aseguramiento de calidad de PCBA.

Especificaciones técnicas

Inspección
SPI · AOI · rayos X · microscopio
Eléctricas
ICT · sonda volante · prueba funcional · burn-in
Aceptación
mano de obra IPC-A-610

Preguntas frecuentes

  • ¿Cuándo es mejor la sonda volante que el ICT?

    Cuando los volúmenes son bajos y los útiles costarían más que las placas. Un útil de lecho de agujas tarda semanas y cuesta dinero; la sonda volante solo necesita los datos CAD y puede probar prototipos y lotes pequeños de forma económica, aunque es más lenta por placa.

  • ¿Sustituye la prueba funcional a la prueba en circuito?

    No. El ICT encuentra rápido fallos de componente e interconexión; la prueba funcional demuestra que el conjunto se comporta como producto. Una placa puede pasar el ICT y fallar la prueba funcional, y lo contrario ocurre cuando el fallo queda fuera de la netlist del ICT.

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